Inficon





Worldwide


Semiconductor
>    통합 공정 감시    >   PVD Degas Monitoring   

Products:


> 누출 검출기
> 잔류 가스 분석기
> 진공 게이지
> 진공 밸브 및 가스 주입 시스템
> 진공 컴포넌트
> 통합 공정 감시
 
•  PVD Degas Monitoring
•  Preclude IPM Photoresist Detector for 200mm and 300mm PVD Degas Chambers
•  Stiletto IPM for 200mm Sputter Etch Clean
•  Transpector IPM Gas Analysis System
   
> FabGuard 통합 소프트웨어
> FabGuard를 이용한 RF 감지 기술



200mm 및 300mm 공정용 PVD 탈가스 감시

PVD 툴 탈가스 챔버의 포토레지스트를 검출하여 값비싼 정지시간과 포괄적인 청소를 유발시킬 수 있는 오염을 완화시킵니다

현상 중인 금속화 웨이퍼는 항상 이전 공정에서 수증기, 다른 기체 및 불순물(이산화탄소 및 포토레지스트 등)을 흡수합니다. 이러한 기체 및 불순물은 막 특성을 악화시키기 때문에 막을 증착하기 전에 탈착하여 웨이퍼에서 제거해야 합니다. 웨이퍼 탈가스 모듈은 PVD 클러스터 툴에서 이 요구사항을 충족시킵니다.

통합 공정 모니터(IPM)를 이용한 탈가스 공정 감시는 PVD 클러스터 툴의 우수한 제품 생산량과 처리량을 위해 매우 중요합니다. 이들 챔버는 오염과 관련하여 웨이퍼의 잠재적인 최악의 상태를 볼 뿐만 아니라 증착되는 막에 악영향을 주는 휘발성 물질을 완전히 제거하기 위해서도 매우 중요합니다.

INFICON 통합 공정 모니터(IPM)는 탈가스 챔버를 계속해서 감시하여 200mm 및 300mm PVD 클러스터 툴에서 포토레지스트로 오염된 웨이퍼를 검출합니다. IPM은 탈가스되는 각 웨이퍼를 스캔하여 스트립이 불완전하거나 빠뜨려서 미량의 포토레지스트 화합물이 웨이퍼에 남아 있으면 경보음을 발생시킵니다. 손상을 제한하고 값비싼 생산량 문제를 방지하기 위해 고감도 센서의 신호를 이용해서 자동으로 클러스터 툴을 중단시킬 수 있습니다.

생산 툴에 대한 광범위한 시험에서 신뢰성이 입증된 INFICON IPM은 심각한 툴 오염의 영향을 제거하는데 도움을 줄 수 있습니다.

*200mm PVD 탈가스 챔버용 Preclude 포토레지스트 검출기

Transpector CPM 컴팩트 공정 모니터

QUESTIONS? Contact your local representative, click here.

ASSOCIATED TECHNICAL INFORMATION

Technical Information:

   Benefits of RGA Degassing
English

   Transpector CPM - Integrated Process Monitor for 300mm High Pressure Degas
English

Request Further Information from Inficon.
REQUEST INFO. I'd like additional information, click here.
Typical output when monitoring wafer degas using INFICON IPM


Contact your local representative.


GOT A SHOT? Send us your photo of an INFICON product at work. We'll send you a very cool gift!