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>    통합 공정 감시   

Products:


> 누출 검출기
> 잔류 가스 분석기
> 진공 게이지
> 진공 밸브 및 가스 주입 시스템
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> 통합 공정 감시
 
•  PVD Degas Monitoring
•  Preclude IPM Photoresist Detector for 200mm and 300mm PVD Degas Chambers
•  Stiletto IPM for 200mm Sputter Etch Clean
•  Transpector IPM Gas Analysis System
   
> FabGuard 통합 소프트웨어
> FabGuard를 이용한 RF 감지 기술



통합 공정 감시

통합 공정 감시 기능은 정기적인 계측을 위한 공정 조건을 직접 측정합니다. INFICON 일체형 프로세스 모니터는 현장 센서의 능력을 활용해서 실제 반도체 공정 조건을 측정하여 설비, 공정 및 웨이퍼 측정값을 실시간으로 제공합니다.

IPM 응용분야 - 종합 계측(Total Metrology)

설비 계측:
  • 진공 시스템 진단
  • 기초 진공 점검
  • 웨이퍼간 감시
  • 헬륨 누출 점검
  • 진공 무결성
  • PM 회수 자격 부여
  • 입자 소스 식별
  • 고장 검출

공정 계측:
  • 챔버 청소 예측
  • 자동 통계 공정 제어(SPC)
  • 자동 보고서 생성
  • 챔버 청소 엔드포인트
  • 공정 엔드포인트

웨이퍼 계측:
  • 필름 속성 모델링
  • 생산량 예측

특징 요약
  • 고급 센서의 통합 및 동기화
  • 복잡한 공정 변수의 실시간 감시 및 해석
  • 탈선 검출에 근거한 툴 통합
  • 툴 문제 해결을 위한 수동 조작
  • 로컬 공정 및 설비 데이터 아카이브

INFICON 통합 공정 모니터

200mm PVD 탈가스 챔버용 Preclude 포토레지스트 검출기
PVD 툴 탈가스 챔버의 포토레지스트를 검출하여 값비싼 정지시간과 포괄적인 청소를 유발시킬 수 있는 오염을 완화시킵니다.

FabGuard 센서 통합 및 분석 시스템을 이용한 RF 센서 기술
실시간 플라즈마 공정 분석을 제공하여 공정 변동성을 크게 줄입니다.

200mm 에치 청소용 Stiletto IPM
현장 계측 및 공정 제어를 위한 입자 검출 시스템

Transpector IPM 가스 분석 시스템
고진공 챔버용 자동 감시 및 진단 시스템


Featured Product

플라즈마 아크 검출용 Sion RF 검출기 - 마이크로 아킹(micro-arcing)의 초고속 고출력 분석




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FabGuard FDC
공정, 툴 및 전체 제조공장을 관리합니다

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