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> FabGuard Software-Suite
> Integrierte Prozessüberwachung
 
•  PVD Degas Monitoring
•  Preclude IPM Photoresist Detector for 200mm and 300mm PVD Degas Chambers
•  Stiletto IPM for 200mm Sputter Etch Clean
•  Transpector IPM Gas Analysis System
   
> Leckdetektoren
> RF Sensing Technology mit FabGuard
> Restgasanalysatoren
> Vakuumkomponenten
> Vakuummeter
> Vakuumventile und Gasdosierungssysteme



Integrierte Prozessüberwachung

Die integrierte Prozessüberwachung bietet eine direkte Messung von Prozessbedingungen für eine zeitnahe Messtechnik. Integrierte Prozessmonitore von INFICON nutzen die Leistung von lokalen Sensoren, die die tatsächlichen Prozessbedingungen messen, um Geräte-, Prozess- und Wafermesstechnik in Echtzeit bereitzustellen.

IPM-Anwendungen - Gesamtmesstechnik

Anlagenmesstechnik:

  • Vakuumsystemdiagnose
  • Basisvakuumüberprüfung
  • Inter-Wafer-Überwachung
  • Überprüfung auf Heliumlecks
  • Vakuumintegrität
  • PM-Rückgewinnungsqualifizierung
  • Identifizierung von Partikelquellen
  • Fehlererkennung

Prozessmesstechnik:

  • Kammerreinigungsprognose
  • Automatisierte statistische Prozesssteuerung
  • Automatisierte Berichterstellung
  • Kammerreinigungsendpunkt
  • Prozessendpunkt

Wafermesstechnik:

  • Modellierung von Schichteigenschaften
  • Ertragsprognose

Features auf einen Blick

  • Integration und Synchronisation von erweiterten Sensoren
  • Überwachung und Interpretation komplexer Prozessvariablen in Echtzeit
  • Geräteintegration auf der Grundlage von Abweichungserkennung
  • Manueller Betrieb für die Fehlerbehebung von Geräten
  • Lokales Prozess- und Ausrüstungsdatenarchiv

Integrierte Prozessmonitore von INFICON

Preclude Photoresist Detector for 200mm PVD Degas Chambers

Erkennt Fotolack in Entgasungskammern von Geräten zur physikalischen Dampfabscheidung und verhindert so Verunreinigungen, die kostspielige Ausfallzeiten und umfangreiche Reinigungen verursachen können.

RF Sensor Technology with FabGuard Sensor Integration and Analysis System

Bietet Plasmaprozessanalyse in Echtzeit, um die Prozessschwankungen deutlich zu reduzieren.

Stiletto IPM for 200mm Sputter Etch Clean

Partikelerkennungssystem für lokale Messtechnik und Prozesssteuerung

Transpector IPM Gas Analysis System

Automatisiertes Überwachungs- und Diagnosesystem für Hochvakuumkammern

Featured Product

Sion RF Detector for Plasma Arc Detection - Blitzschnelle und leistungsstarke Analyse von Mikrolichtbögen




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